电力检修|电容式电压互感器分压电容介损现场

   更新日期:2017-03-29     来源:建材之家    作者:安防之家    浏览:99    评论:0    
核心提示:摘要:分析了由于接触不良引起电容式电压互感器分压电容c2的介质损耗tanδc2偏大的测量误差及其消除方法。关键词:电容式电压互感器接触不良介质损耗测量误差  电容式电压互感器(简称cvt)的分压电容c2电容量很大,如tyd110/500)this.style.width=500;" onmousewheel="returnbbimg(this)">-0.015的c2为70~75nf。而500kvc

电力检修|处理小电流接地故障的新思路

推荐简介:摘要:基于目前日趋完善的小电流接地选线技术和智能化的综合自动化系统及馈线自动化技术,提出全新的处理接地故障的新思路。阐述了利用馈线自动化技术隔离故障的过程,并表述了该新方法的实用意义。 中低压配电系统的中性点,一般采用不接地或经消弧线圈接地方式,称为小电流接地系统。该系统中发生单相接地故障时,尽管故障分量不大,但由于其他两相对地电压升为线电压,在没有消弧线圈的情况下,如果发......
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分析了由于接触不良引起电容式电压互感器分压电容c2的介质损耗tanδc2偏大的测量误差及其消除方法。关键词:电容式电压互感器接触不良介质损耗测量误差电容式电压互感器(简称cvt)的分压电容c2电容量很大,如tyd110/500)this.style.width=500;" onmousewheel="returnbbimg(this)">-0.015的c2为70~75nf。而500kvcvt的分压电容(c2)的电容量高达140nf。按图1测量c2的介质损耗时,必须注意测量时接触应良好,否则将带来较大的测量误差。

图1为西林电桥正接线测量分压电容c2的电容量和介质损耗原理接线图。测量引线cx接于c2下端δ点的接线螺栓上。试品为tyd110/500)this.style.width=500;" onmousewheel="returnbbimg(this)">-0.015,其3相介质损耗的测量值分别为:

a相:tanδc2=0.52;

b相:tanδc2=0.49;

c相:tanδc2=0.47



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其介质损耗值均超过电力部dl/t596-1996《电力设备预防性试验规程》的规定值tanδc2≤0.2(膜纸绝缘耦合电容器的介质损耗应不大于0.2)。现场对上述三台cvt进行了更换。

更换后,在试验室进行试验以寻找不合格的具体原因。在对试品检查时发现,三台cvt的δ接线螺栓均有锈迹,立即进行清除,再次试验,其结果分别为:

500)this.style.width=500;" onmousewheel="returnbbimg(this)">

至此,已十分清楚,由于δ点接线螺栓的锈迹未清除,导致测量时接触不良,使三台合格的cvt,测量结果却不合格,造成了不必要的更换。

图2为分析δ点接触不良的等效原理图。试品本身的等效电路为cx、rx并联,其等值介质损耗为tanδx=1/wcxrx。



500)this.style.width=500;" onmousewheel="returnbbimg(this)">



而δ点的接触电阻视为一集中电阻rj。按图2等效电路,实测介质损耗为tanδ′x。

500)this.style.width=500;" onmousewheel="returnbbimg(this)">

式中ωcxrj即为偏大的测量误差。由于tyd110/500)this.style.width=500;" onmousewheel="returnbbimg(this)">-0.015的分压电容c2电容量一般为70~75nf,当rj=200kω时,ωcxrj≈0.5;当rj=85ω时,ωcxrj=0.2,即达到《电力设备预防性试验规程》的规定值。而对500kvcvt由于分压电容c2≈140nf,当rj=45ω时,ωcxrj=0.2。也就是说,对此类大电容而介质损耗标准很小的试品,测量时,必须注意由于接触不良引起的偏大的测量误差。稍不注意就可能使分压电容c2的介质损耗tanδc2超过规程的规定值0.2。所以当cvt分压电容c2的介质损耗超出规程时,要检查试验接线是否接触良好。

应该指出,对于一般试品由于其电容cx仅为几百微微法(如套管、互感器等)所以一般即使有接触电阻rj的影响,其值ωcxrj均很小亦可以忽略不计。而对于一些大电容试品(如变压器绕组间或绕组对地电容)其介质损耗的标准相对较大(最小值为0.8),所以ωcxrj的影响相对亦小一些。往往不会使实测tanδ超过规程的规定值。

结论:测量大电容小介损试品时,必须注意测量引线接触不良造成的偏大测量误差,尤其当实测介质损耗不合格时必须排除引线接触电阻的影响。

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